Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統
2016-03-18
硬體設備
半自動 LED wafer/chip 點測設備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統的方式存在 一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。
致茂研發出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創新的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩定 快速之數據；在機構方面，58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。長沙艾克賽普儀器設備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區域的總代理，以下為長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統的技術參數及產品特點，如果您想對Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統有更多的了解，歡迎致電長沙艾克賽普儀器設備有限公司，聯系電話：0731-84284278 84284378。更多產品信息歡迎點擊：m.bjdaisi.com.cn。長沙艾克賽普儀器設備有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統主要特色：
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)
半自動精密LED wafer/chip點測設備
特制Edge Sensor具有點測針壓穩定，無疲乏與針壓變動問題
機械視覺定位系統，縮短人工操作時間
自動抽測功能
彈性調整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統
自動破片掃描演算法
遮光罩設計，杜絕背景光干擾
即時顯示點測資料分布圖
完善的量產測試統計報表及分析工具
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